布鲁克Bruker原子力显微镜探针 Tespa V2

  布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 轻敲模式 Tespa V2

  布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 Tespa-V2,是研究一般样品轻敲模式常用的探针型号。

  悬臂共振频率:320 kHz,针尖曲率半径:8nm,力常数:42N/M。

  一包10根,高质量硅蚀刻探针,用于TappingMode?和其他非接触模式。

  Bruker AFM Probes推出了其流行的TESP / TESPA AFM探针的改进版本。 布鲁克的新系列TESP高品质优质蚀刻硅探针为TappingMode?和空气中的非接触模式设定了行业标准。

  新设计提供:

  ?更严格的尺寸规格,以改善探头与探头的一致性

  ?尖端顶点与悬臂的对齐更紧密,从而使尖端上的激光定位更容易

  ?改善探头质量和美观

  

  

  

  该AFM探针可以安装在任何AFM上使用,不使用铝反射涂层的型号为TESP-V2。

  详细规格:

  tespa 悬臂2.jpg

  tespa 规格1.jpg

  延展阅读:

  关于布鲁克:

  布鲁克公司以先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在最广泛的应用领域中提供最完整的AFM解决方案。

  布鲁克AFM探针制造中心独特优势:

  *Class100级别的无尘室

  *先进的设计、制造工序及制造工具

  *探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密

  *训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针

  *全面的质量管理体系,确保探针性能行业领先

  在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。

  原子力显微镜AFM探针:

  探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式

  探针的结构:悬臂梁+针尖

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